Описание

AFM Probes. AFM, Atomic Force Microscope, probes or tips are designed to fit into most commercially available AFMs and outperform all other silicon SPM, Scanning Probe Microscope, probes used in surface analysis

Оборудование для оптического измерения
  • afm probes
  • afm cantilever
  • afm cantilever fabrication

Вам необходима дополнительная информация от продавца?

Поделиться на: